INX 700 Probe Microscope

ยกระดับมาตรฐานการตรวจสอบไฟเบอร์ออปติก

INX 700 Probe Microscope ได้รับการออกแบบมาเพื่อยกระดับประสิทธิภาพการตรวจสอบหัวต่อไฟเบอร์ออปติก ด้วยความสามารถในการตรวจสอบคอนเนกเตอร์แบบเส้นใยเดี่ยว (Single Fiber) และหลายเส้นใย (Multifiber) ได้แบบอัตโนมัติ

พร้อมด้วย เทคโนโลยีวิเคราะห์ภาพด้วยปัญญาประดิษฐ์ (AI-Enhanced Image Analysis) รุ่นแรกของอุตสาหกรรม ที่ช่วยเพิ่มความแม่นยำในการตรวจจับสิ่งสกปรก ความเสียหาย และข้อบกพร่องบนหน้าปลายคอนเนกเตอร์ ช่วยให้การตรวจสอบเป็นไปอย่างรวดเร็ว สม่ำเสมอ และเชื่อถือได้มากยิ่งขึ้น

INX™ 700 Inspection Probe Microscope (INX 700) มอบประสิทธิภาพที่เหนือชั้นในการตรวจสอบและรับรองความสะอาดของการเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติก ทั้งแบบเส้นใยเดี่ยว (Single Fiber), แบบคู่ (Duplex Fiber) และแบบหลายเส้นใย (Multifiber)

ด้วยการออกแบบที่เหมาะสำหรับการใช้งานภาคสนาม และรองรับเทคโนโลยี VIAVI TPA™ (Test Process Automation) ทำให้ INX 700 สามารถทำให้ทุกขั้นตอนของกระบวนการตรวจสอบเป็นระบบอัตโนมัติ ตั้งแต่การตั้งค่าการทดสอบ การกำหนดค่าหัวตรวจ (Tip Configuration) การเลื่อนภาพและปรับโฟกัสอัตโนมัติ การวิเคราะห์หน้าปลายคอนเนกเตอร์ด้วย AI (AI-Enhanced End-Face Analysis) ไปจนถึงการจัดเก็บข้อมูลผลการทดสอบ

ส่งผลให้การตรวจสอบเป็นไปอย่างรวดเร็ว แม่นยำ และมีความสม่ำเสมอ ช่วยลดข้อผิดพลาดจากผู้ปฏิบัติงานและเพิ่มประสิทธิภาพในการทำงานภาคสนามได้อย่างมีประสิทธิผล

Most Innovative Test and 
Measurement Solution of the Year

VIAVI INX 760 wins
2024 Innovation Review Award

จุดเด่นและประโยชน์

รวดเร็วยิ่งขึ้น

รับผลการทดสอบได้รวดเร็วยิ่งขึ้น ด้วยการทำงานอัตโนมัติ
ที่ใช้เวลาเพียงไม่กี่วินาที

ง่ายยิ่งขึ้น

ทำให้การตรวจสอบไฟเบอร์ออปติกเป็นเรื่องง่าย ด้วยระบบตรวจสอบอัตโนมัติที่รองรับคอนเนกเตอร์แบบหลายเส้นใย, เส้นใยเดี่ยวและแบบคู่
ได้อย่างสะดวกและมีประสิทธิภาพ

รวดเร็วยิ่งขึ้น

รับผลการทดสอบได้รวดเร็วยิ่งขึ้น ด้วยการทำงานอัตโนมัติ
ที่ใช้เวลาเพียงไม่กี่วินาที

ง่ายยิ่งขึ้น

ทำให้การตรวจสอบไฟเบอร์ออปติกเป็นเรื่องง่าย ด้วยระบบตรวจสอบอัตโนมัติที่รองรับคอนเนกเตอร์แบบหลายเส้นใย, เส้นใยเดี่ยวและแบบคู่
ได้อย่างสะดวกและมีประสิทธิภาพ

แข็งแกร่งยิ่งขึ้น

มั่นใจในประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้ ด้วยกล้องจุลทรรศน์ตรวจสอบไฟเบอร์ออปติกที่แข็งแรง ทนทาน และพร้อมมอบประสิทธิภาพการทำงานที่ยอดเยี่ยมในทุกสภาพแวดล้อมภาคสนาม

ชาญฉลาดยิ่งขึ้น

ยกระดับประสิทธิภาพการตรวจสอบด้วยผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้ พร้อมเทคโนโลยีวิเคราะห์ภาพด้วย AI ที่ช่วยรองรับงานตรวจสอบที่มีความซับซ้อนมากยิ่งขึ้น

แข็งแกร่งยิ่งขึ้น

มั่นใจในประสิทธิภาพที่เชื่อถือได้ ด้วยกล้องจุลทรรศน์ตรวจสอบไฟเบอร์ออปติกที่แข็งแรง ทนทาน และพร้อมมอบประสิทธิภาพการทำงานที่ยอดเยี่ยมในทุกสภาพแวดล้อมภาคสนาม

ชาญฉลาดยิ่งขึ้น

ยกระดับประสิทธิภาพการตรวจสอบด้วยผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้ พร้อมเทคโนโลยีวิเคราะห์ภาพด้วย AI ที่ช่วยรองรับงานตรวจสอบที่มีความซับซ้อนมากยิ่งขึ้น

คุณสมบัติเด่น (Key Features)

  • ระบบตรวจสอบอัตโนมัติเต็มรูปแบบ (True Automated Inspection) มอบกระบวนการทำงานที่รวดเร็วที่สุดในอุตสาหกรรม โดยทำให้ทุกขั้นตอนของการตรวจสอบเป็นแบบอัตโนมัติ
  • เทคโนโลยี AutoID ช่วยกำหนดค่าการทำงานของกล้องจุลทรรศน์โดยอัตโนมัติตามหัวตรวจ (Tip) ที่เชื่อมต่ออยู่ ลดเวลาในการตั้งค่าและลดความผิดพลาดจากผู้ใช้งาน
  • PanOptic Imaging Engine ให้ภาพมุมมองเต็มพื้นที่ตั้งแต่ขอบถึงขอบ (Edge-to-Edge Field of View) โดยไม่ลดทอนคุณภาพด้านกำลังขยายและความละเอียดของภาพ
  • ออกแบบมาเพื่อผสานข้อดีของการวิเคราะห์ภาพทั้งแบบดั้งเดิมและแบบ AI โดยใช้อัลกอริทึมแบบดั้งเดิมสำหรับการวิเคราะห์ที่รวดเร็วและประหยัดพลังงานในสถานการณ์ทั่วไป และใช้การวิเคราะห์เสริมด้วย AI สำหรับงานตรวจสอบที่มีความซับซ้อนมากขึ้น
  • แบตเตอรี่แบบถอดเปลี่ยนได้อย่างรวดเร็ว (Quick-Swappable Battery) และสามารถชาร์จแยกจากตัวเครื่องได้ ช่วยให้ใช้งานต่อเนื่องได้ยาวนานโดยไม่สะดุด
  • รองรับ VIAVI TPA (Test Process Automation) ช่วยให้ทุกขั้นตอนของงานทดสอบมีความสอดคล้อง มีประสิทธิภาพ และมีความแม่นยำมากยิ่งขึ้น ผ่านระบบอัตโนมัติสำหรับกระบวนการทดสอบและตรวจสอบครบวงจร